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半導體步入室恒溫恒濕試驗設備
- 半導體步入室恒溫恒濕試驗設備外框架構采用雙面彩鋼保溫庫板組合而成,大小尺寸可根據(jù)客戶要求訂制,根據(jù)不同的要求來進行配置。步入式試驗箱主要由箱體、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)風循環(huán)系統(tǒng)、時間控制系統(tǒng)、測試負載等組成。通過高低溫老化測試,可檢查出不良品或不良件,為顧客迅速找出問題并解決問題提供了有效的手段,充分提高了顧客生產(chǎn)效率和產(chǎn)品品質。
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半導體步入室恒溫恒濕試驗設備溫度范圍:-40~120℃是客戶指定的設備溫度范圍要求,尺寸根據(jù)顧客給的內箱尺寸,大型的就做成人可以步入進去的,所以叫高低溫步入式試驗箱。小型的則做成箱式的就叫高低溫試驗箱。濕度范圍就做成客戶指定的-40℃~120℃,中間任意一個溫度都可以恒定或者交變做試驗。當然如果此溫度范圍滿足不了的一些顧客還可以定做更大的溫度范圍如-70℃~150℃或者更小的溫度范圍如-20℃~85℃等要求均可非標定制。
適用范圍:
高低溫步入式試驗箱、溫度范圍:-40~120℃是常用于通訊、光電、LED、電子等產(chǎn)品(如:光電產(chǎn)品、機算機整機或零配件、顯示器、觸摸屏、終端機、車用電子產(chǎn)品、主機板、電源供應器、監(jiān)視器、交換式充電器、手機、電腦、照相機、電話機等)仿真出一種高溫、低溫、高低溫交變、恒定、循環(huán)等惡劣溫度環(huán)境測試的設備,是提高產(chǎn)品可靠性、穩(wěn)定性的重試驗設備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質量和競爭性的重要試驗環(huán)節(jié),高低溫步入式試驗箱、溫度范圍:-40~120℃廣泛生產(chǎn)企業(yè)的實驗室、國家計量院、研究所、高校實驗室、第三方檢測機構等領域。
設備結構
半導體步入室恒溫恒濕試驗設備外框架構采用雙面彩鋼保溫庫板組合而成,大小尺寸可根據(jù)客戶要求訂制,根據(jù)不同的要求來進行配置。步入式試驗箱主要由箱體、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)風循環(huán)系統(tǒng)、時間控制系統(tǒng)、測試負載等組成。通過高低溫老化測試,可檢查出不良品或不良件,為顧客迅速找出問題并解決問題提供了有效的手段,充分提高了顧客生產(chǎn)效率和產(chǎn)品品質。
步入式溫控箱|步入式溫控試驗室常見故障排除
1.在高溫控制試驗中,如溫度變化達不到試驗溫度值時,可以檢查電器系統(tǒng),逐一排除故障。如溫度升得很慢,就要查看風循環(huán)系統(tǒng),看一下風循環(huán)的調節(jié)擋板是否開啟正常,反之,就檢查風循環(huán)的電機運轉是否正常。如溫度過沖厲害那么就需要整定PID 的設置參數(shù)。如果溫度直接上升,過溫保護,那么,控制器出故障,須更換控制儀表。
2.低溫控制達不到試驗的指標,那你就要觀察溫度的變化,是溫度降的很慢,還是溫度到一定值后溫度有回升的趨勢,前者就要檢查一下,做低溫試驗前是否將工作室烘干,使工作室保持干燥后再將試驗樣品放入工作室內再做試驗,工作室內的試驗樣品是否放置的過多,使工作室內的風不能充分循環(huán),在排除上述原因后,就要考慮是否是制冷系統(tǒng)中的故障了,這樣就要請廠家的專業(yè)人員進行檢修。后者的現(xiàn)象是設備的使用環(huán)境不好所致,設備放置的環(huán)境溫度,放置的位置(箱體后與墻的距離)要滿足要求(在設備操作使用說明中都有規(guī)定)。
3.步入式溫控箱|步入式溫控試驗室在試驗運行過程中突然出現(xiàn)故障時,控制儀表上出現(xiàn)對應的故障顯示提示并有聲訊報警提示。操作人員可以對照設備的操作使用中的故障排除一章中快速檢查出屬于哪一類故障,即可請專業(yè)人員快速排除故障,以確保試驗的正常進行。
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